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PT3100ABI记忆芯片测试仪

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产品名称: PT3100ABI记忆芯片测试仪
产品型号: PT3100
产品展商: 北京金三航科技发展有限公司
简单介绍
提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。

PT3100ABI记忆芯片测试仪的详细介绍

特点：
1、可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP，测试容量：16K--- 116M。
2、可自动测试芯片的好坏，也可先设定型号，再进行测试。
3、提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4、细致的设置菜单，可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5、可准确显示故障位置。
6、带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7、可使用电源适配器，也可使用电池。

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北京金三航科技发展有限公司
[3H.Instruments(Beijing) 
Co.,Ltd]
　　北京金三航科技发展有限
公司生产销售：集成电路测试
仪,电路维修测试仪,电路板故
障检测仪,器件测试仪,IC测试
仪，分立器件测试仪。北京金
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