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ABI记忆芯片测试仪

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产品名称: ABI记忆芯片测试仪
产品型号: PT3100
产品展商: 北京金三航科技发展有限公司
简单介绍
提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。


ABI记忆芯片测试仪的详细介绍

详情请点击http://www.17.com.cn/main/listproduct67.html

PT3100ABI记忆芯片测试仪
特点:
1、 可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M。
2、 可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试。
3、 提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4、 细致的设置菜单,可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5、 可准确显示故障位置 。
6、 带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7、 可使用电源适配器,也可使用电池。

详情请点击http://www.17.com.cn/main/listproduct67.html

北京金三航科技发展有限公司
电话:010-51662244
传真:010-51662244-804
网址:http://www.17.com.cn
地址:北京市海淀区苏州街18号长远天地大厦A2座711室



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