集成电路测试仪

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英国ABI集成电路测试仪三航集成电路测试仪台湾力浦集成电路测试仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	全品种集成电路测试仪 AT128	最大测试IC管脚数:128pin,可以升级到192/256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描
	全品种集成电路测试仪 AT192	最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描
	全品种集成电路测试仪 AT256	最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描
	集成电路测试仪 LinearMasterABI	集成电路测试仪产品简介: 特点：·可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级·键入型号即可测试，结果显示在LCD屏上 ·可识别无标记或无法辨别的芯片或列出代换的芯片 ·可模拟被测器件周围的无源器件，以确保进行综合测试，或进行有条件/无条件的循环测试 ·可显示元器件单个管脚的诊断信息·可使用整流电源或干电池，功耗低，可自动关机
	集成电路测试仪 ChipMaster	集成电路测试仪特点：·可扩充的内装芯片，几乎囊括所有40脚以下的数字芯片和存储器、接口芯片、MCU/MPU，软件不断升级 ·使用、操作简便，输入IC型号，按测试键，测试结果即显示在LCD显示屏上 ·可识别无标记或无法辨别的芯片或列出代换的芯片 ·可显示具体某个脚的故障诊断信息 ·可进行循环或有条件循环测试 ·体积小，可使用整流电源，亦可使用电池工作
	ABI手持式数字IC测试器 PT3000	使用、操作简便，输入IC型号，按测试键，测试结果即显示在LCD显示屏上
	ABI记忆芯片测试仪 PT3100	提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
	ABI手持式线性IC测试器 PT3200	可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级
	集成电路测试仪 ICT-33C	器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 *EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中
	集成电路测试系统 SHtek4250A	电路是半导体集成电路中的重要组成部分，通用中、小规模集成电路虽己应用多年，但依然在各种民用电子产品和军用电子装备中发挥着重要的作用。由于通用中、小规模集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例，其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性，因此对通用中、小规模集成电路必须进行严格的测试和筛选。为满足各种通用中、小规模集成电路的测试需求，北京金三航科技发展有限公司自行研制生产了SHtek4250A集成电路测试系统。该系统是SHtek4250A系列电子元器件测试系统的组成部分，适用于74/54、74LS/54LS、74HC/54HC、74HCT/54HCT、CD4000等各类通用中、小
	场效应管综合参数测试仪 shtek3400	场效应管综合参数测试仪产品简介: 本仪器为测试场效应管综合参数的测试仪，可测BVdss 、Vgs（th）、Igss、Idss、Id(on)、Rds、Gfs场效应管静态参数。本仪器是采用计算机控制的智能化的测试仪器，具有测试速度快、操作灵活、使用方便特点，并具有存储测试数据，历史数据查询、打印测试数据等功能。
	晶闸管综合参数测试仪 shtek2400	晶闸管综合参数测试仪概述：shtek2400型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定。本仪器的设计兼顾了SJ1105-76半导体闸流管断态和反向伏安特性的测试方法，SJ1105-76半导体闸流管通态特性的测试方法，SJ1105-76半导体闸流管控制极触发电压，触发电流的测试方法，SJ1105-76半导体闸流管维持电流的测试方法，JB1144-75、JB1143-75的基本要求，在测量电源及参数指示电表的设计上满足上述标准中对电量及峰值测量的要求，为此具有较强的适应能力
	模拟电路多参数筛选测试仪 GT2200A	GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量。
	数字集成电路筛选测试仪 GT2100A	GT2100A 数字集成电路多参数筛选测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
	集成电路测试仪 ICT-33C+	EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
	LPICT-7A线性IC测试仪 LPICT-7A	16字9×7点阵LCD显示，背光设计，光线不良的环境也可以操作自如
	LPICT-6C桌上型数字IC测试器 LPICT-6C	16字9x7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如。
	掌上型线性IC测试仪器 Lp-2	可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、N555 Series、Transistor Array 轻小可携带、操作容易，可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使用1000小时
	掌上型数位IC测试仪器 Lp-1	可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44



    
    
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障检测仪,器件测试仪,IC测试
仪，分立器件测试仪。北京金
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技术咨询企业。凭借较强的技
术实力，能够给用户提供完善
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