HIOKI(日置)分立器件测试仪

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更详细的产品分类

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	HIOKI3503电容测试仪 HIOKI3503	C,D测试.测试源频率120Hz,1kHz.比较输出.配有RS-232接口.GP-IP可选 C测试仪.MLCC叠片陶瓷电容的高速测量，低价、高效定电压测量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz时 4ms（代表值）的高速测量内置比较器数台同时使用时，相位同步可能附带同时触发输出功能
	HIOKI3522-50日本日置LCR测试仪 HIOKI3522-50	14种测试项目.测试源频率DC.lmHz～100kHz 比较输出.GP-IB或RS-232C接口可选 LCR测试仪.DC或者1mHz～100kHz 低价及更好的功用和性能 3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长
	3511-50LCR测试仪 3511-50	7种测试项目.测试源频率.120Hz，1kHz.比较输出.内含RS-232C接口.GP-IB接口可选 LCR测试仪精巧，非常专业，5ms快速测量LCR 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度： ±0.08% 内置比较器
	3504/ 3504-10C测试仪 3504/ 3504-10	封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。可选定测量电压触发同步测量
	3522-50LCR测试仪 3522-50	低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率 5ms高速测量的LCR计宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 测量14种参数(高分辨率和高精度) DC电阻测量
	3532-50LCR测试仪 3532-50	搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来
	3535LCR测试仪 3535	高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带高速LCR测试（6ms/采样）拆卸式前置放大器可选择为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能



    
    
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障检测仪,器件测试仪,IC测试
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